羅德與施瓦茨（以下簡稱“R&S”）針對未來應(yīng)用需求升級R&S FSWP相位噪聲分析儀。全新R&S FSWP-B56G選件將頻率范圍擴展至56 GHz，通過支持外接高端信號源作為本振，該設(shè)備兼具易用型信號源分析儀與高端相位噪聲測試儀的雙重優(yōu)勢。為滿足放大器附加相位噪聲和殘余相位噪聲的測量需求，R&S還將內(nèi)置信號源頻率范圍提升至54 GHz。此外，該設(shè)備新增了簡便創(chuàng)新的噪聲系數(shù)測量功能。

圖：全新升級的R&S FSWP相位噪聲分析儀和VCO測試儀現(xiàn)已實現(xiàn)高達56GHz的信號源與器件分析能力，并支持外接本振功能。

R&S對其相位噪聲分析儀產(chǎn)品FSWP進行重大性能升級，這款兼具相位噪聲分析與壓控振蕩器測試功能的儀器現(xiàn)已成為雷達應(yīng)用、以及各類振蕩器（包括合成器、恒溫晶振、介質(zhì)振蕩器和壓控振蕩器）研發(fā)制造的理想測試解決方案。最新推出的R&S FSWP-B56G選件將絕對相位噪聲測量頻率上限從50 GHz擴展至56 GHz，無需外接變頻器即可一鍵完成測量。該頻段可滿足衛(wèi)星通信需求，并能對IEEE 802.3dj超高速局域網(wǎng)或CEI-224G通用電氣I/O接口等高速數(shù)字應(yīng)用中的時鐘抖動進行精確測量。

外接高端信號源助力相位噪聲測量速度提升

最新升級的R&S FSWP相位噪聲分析儀現(xiàn)可支持將外接信號源作為本振，實現(xiàn)最高56 GHz的絕對相位噪聲測量。采用高端信號源能顯著提升測量效率，在測量待測設(shè)備（如另一臺高端振蕩器）的相位噪聲時，僅需少量互相關(guān)運算即可完成。根據(jù)信號源品質(zhì)差異，測量速度最高可比使用內(nèi)置源提升1000倍。該分析儀提供調(diào)諧輸出功能，可將作為本振的外接信號源頻率鎖定至待測設(shè)備頻率。在此模式下，用戶可選擇使用一臺或兩臺外接振蕩器，充分發(fā)揮互相關(guān)測量技術(shù)的優(yōu)勢；亦可通過雙待測源比對法（雙DUT法）進行測量，并通過3 dB修正獲得最終結(jié)果。

實現(xiàn)高達56 GHz的附加及殘余相位噪聲測量

配備R&S FSWP-B56G選件后，該儀器還可用于對放大器等器件進行頻率偏移40 MHz、高達56 GHz的附加和殘余相位噪聲測量。該應(yīng)用場景下內(nèi)置源頻率范圍現(xiàn)已擴展至50 GHz（選用R&S FSWP-B56G選件可達54 GHz），結(jié)合外部源最高可測量56 GHz信號。

此外，R&S FSWP還具備創(chuàng)新的"噪聲系數(shù)標記"功能。用戶僅需將待測放大器連接在信號源輸出端與R&S FSWP輸入端之間，即可輕松完成放大器噪聲系數(shù)測量。這項基于相位解調(diào)技術(shù)的小信號噪聲系數(shù)測量新方法，其原理與相位噪聲測量完全相同。得益于R&S FSWP兼具信號分析儀與頻譜分析儀雙重功能，該設(shè)備既能通過頻譜分析模式基于校準ENR的噪聲源，采用Y因子法測量噪聲系數(shù)，又可在相位噪聲測試模式下通過解調(diào)技術(shù)實現(xiàn)新型噪聲系數(shù)測量。

全新升級的R&S FSWP相位噪聲分析儀及VCO測試儀將于2025年7月正式上市。