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實(shí)現(xiàn)精確測量兩大方法

 為實(shí)現(xiàn)測量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性,選對(duì)合適的儀器外,測試測量方法選擇也不容小覷。

PA功率分析儀功率單元有兩路輸入:電流和電壓。FPGADSP等運(yùn)算直接獲得的測量數(shù)據(jù)只有電壓和電流的ADC直接測量的結(jié)果,功率、效率、諧波等均以電壓電流測量為基礎(chǔ),通過運(yùn)算獲得的結(jié)果,如功率就是使用電壓和電流直接測量結(jié)果進(jìn)行的運(yùn)算。所以電壓電流測量的準(zhǔn)確性就顯得至關(guān)重要,導(dǎo)體的電阻率會(huì)隨溫度變化、器件老化、線路共模/串模干擾、測量走線接線方式、電路接線方式等都會(huì)影響測量結(jié)果,本文重點(diǎn)講解測量接線方式、電路接線。

1.測量走線接線方式

1)不規(guī)則連接--最差的接線方式

1、圖 2兩條測量線比較分散,形成很大的環(huán)路,當(dāng)環(huán)路中有變化的磁通通過時(shí),根據(jù)電磁感應(yīng)原理,將在環(huán)路中產(chǎn)生與磁通同樣變化的噪聲電壓,儀器測到的值不真實(shí)。


1 電壓不規(guī)則接線方式


2 電流不規(guī)則接線方式

2)一般接線方式—平行走線

3、圖 4相比分散的連接方式,測量線形成的環(huán)路很小,僅限于連根線之間。


3 電壓平行走線接線方式


4 電流平行走線接線方式

3)較好的連接方式—雙絞線

5使用雙絞線連接被測信號(hào),與平行走線相比,雙絞線把環(huán)路細(xì)分到每個(gè)絞合環(huán),相鄰的絞合環(huán)對(duì)外部磁場產(chǎn)生相反的噪聲電壓從而抵消掉。


5 電壓雙絞線接線方式


6 電流雙絞線接線方式

4)理想的接線方式—同軸電纜

7、圖 8對(duì)稱的同軸電纜外層導(dǎo)體中心與內(nèi)導(dǎo)體重合,等效面積為0,因此有很好的磁場屏蔽效果。


7 電壓同軸電纜接線方式


8 電流同軸電纜接線方式

2.電路連接接線方式

功率耗損影響

使用和負(fù)載匹配的接線方式可以降低功率損耗對(duì)測量精度的影響,以下是考慮電源和負(fù)載電阻的情況。參考前期微信文檔《功率測量儀器的“特征阻抗”》中電流表損耗定義

P=I2Ri

電壓表損耗定義  

P=U2/RV

電壓表和電流表內(nèi)阻乘積平方根暫且稱為儀器的“功率特征阻抗”,當(dāng)負(fù)載電阻RLRP時(shí),電壓表損耗大,推薦電流表內(nèi)接法, 當(dāng)負(fù)載電阻RLRP,電流表損耗大,推薦電流表外接法。

舉例PA5000,電壓輸入阻抗Rv2MΩ,電流輸入阻抗Ri100mΩ,電流量程選擇1A,電壓量程選擇300V,電壓電流功耗函數(shù)圖 9,此時(shí)Rp=200,當(dāng)負(fù)載電阻RL約大于447.2Ω時(shí),推薦電流表內(nèi)接,反之外接,示意圖圖 10。


9 電壓電流表功率損耗函數(shù)圖


10 內(nèi)外接判定標(biāo)準(zhǔn)圖

1)電流表外接---測量較大電流

將電壓測量回路連到近負(fù)載一側(cè)。電流測量回路測得流經(jīng)負(fù)載的電流IL和流經(jīng)電壓測量回路的電流IU之和。因?yàn)闇y量回路電流為IL,所以誤差僅為IU,對(duì)測量精度的影響為IU/IL。


11 電流表外接圖

2)電流表內(nèi)接--測量小電流

將電流測量回路接到近負(fù)載端。電壓測量回路測得的電壓等于負(fù)載電壓eL和電流表兩端的電壓eI之和。因?yàn)闇y量回路電壓為eL,誤差為eI。對(duì)測量精度的影響為RI/RL 。


12 電流表內(nèi)接

雜散電容的影響

將儀器的電流輸入端子連接到接近電源接地電位的一端,可以降低雜散電容對(duì)測量精度的影響。

電壓測量回路和電流測量回路內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖,如圖 13,因?yàn)橥獠繖C(jī)箱與屏蔽盒絕緣,所以存在雜散電容Cs。而誤差正是由該雜散電容產(chǎn)生的電流形成的。


13 測量回路內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖

作為舉例,將考慮電源的一端和外部機(jī)箱接地的情況。

這種情況下可以考慮2種電流,負(fù)載電流IL和通過雜散電容的電流ICs如圖 15虛線所示,IL從電流測量回路流經(jīng)負(fù)載回到電源。如點(diǎn)劃線所示,ICs從電流測量回路流經(jīng)雜散電容、外部機(jī)箱接地回到電源。

因此,在電流測量回路即使只測量IL,得到的也是ILICs的和(矢量和),誤差僅為ICs。假設(shè)施加于Cs的電壓是VCs (共模電壓),可以通過以下公式求取ICs。因?yàn)?/span>ICs相位超前電壓90°,所以功率因數(shù)越小,ICs對(duì)測量精度的影響就越大。ICs= VCs × 2πf × Cs。


14 電流輸入端子連到靠近電源高端


15 雜散電容帶來影響

如果將電流輸入端子連到靠近電源地電位的一端,如圖 11,電流測量回路的低端(LO)接近地電位,VCs約等于零,ICs幾乎不流通。這樣就降低了對(duì)測量精度的影響。

電壓正反接影響

1)電壓反接

接地的信號(hào)源電壓加在屏蔽殼對(duì)地電容Cs上,形成額外的泄露電流ICs,在信號(hào)源內(nèi)部和LO測試線阻抗上造成壓降。


16 電壓反接

2)電壓正接

信號(hào)源電壓加在屏蔽殼對(duì)地電容上的電壓很小,ICs為零,沒有額外的泄露電流。


17 電壓正接

綜上,為了實(shí)現(xiàn)精確測量,測量走線選用雙絞線或者同軸電纜,根據(jù)實(shí)際情況選擇適合的接線方式,電壓高端和低端確保不接反。

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