8、準確的壓力校準將成為DDR5 RX測試中的大問題
而且要獲得準確的S參數(shù)模型,這兩者都必須進行估算并測量,包括所有段。另一個關鍵特性是能夠準確地或很好地猜出測量深度及示波器記錄長度,這樣就不會浪費太多的時間。
9、DRAM Rx/Tx測試將面臨巨大的數(shù)據(jù)庫管理問題
數(shù)量龐大的s-par文件、反嵌模型和測量結(jié)果的自動化和管理,將變成一個噩夢。想象一下,不同廠商多種DIMM配置,以不同速度等級測試80多個引腳,這將非常非常困難。