晶體發(fā)出的時(shí)鐘輸入到處理器中，可以使用計(jì)時(shí)器對(duì)此信號(hào)作分頻處理，然后將分頻后的信號(hào)輸出到管腳。這樣我們只需測(cè)量分頻后的信號(hào)，即可計(jì)算出原有時(shí)鐘的頻率。

這種間接測(cè)試的方法，只能測(cè)試晶體的頻率，不能測(cè)量晶體輸出信號(hào)的幅度。若能在設(shè)備的工況范圍都測(cè)試其頻率的準(zhǔn)確性，那晶體電路的工作就是OK的。

圖 3 使用芯片的緩沖功能、計(jì)數(shù)器功能來(lái)測(cè)量

若信號(hào)驅(qū)動(dòng)能力很強(qiáng)，可以考慮非接觸的測(cè)試方案：近場(chǎng)探頭。近場(chǎng)探頭配合頻譜儀，或示波器的FFT分析功能，即可測(cè)得峰值電壓處的頻率。由于為非接觸方案，不存在探頭的負(fù)載效應(yīng)，不過(guò)需注意此時(shí)頻譜儀、FFT分析的頻率分辨率，這會(huì)影響測(cè)量結(jié)果的步進(jìn)、精度。

4.Tip：如何測(cè)量頻率

在捕捉到晶體的輸出信號(hào)后，該如何測(cè)量其頻率呢？在我司的ZDS系列示波器中，可以選擇硬件頻率計(jì)、頻率參數(shù)測(cè)量、上升沿參數(shù)測(cè)量等方法。

硬件頻率計(jì)在實(shí)現(xiàn)時(shí)，有測(cè)周期與測(cè)脈沖數(shù)的算法。這兩種不同的測(cè)試方法，是會(huì)因應(yīng)輸入信號(hào)的頻率大小而選擇的，以期待測(cè)量值更準(zhǔn)確。當(dāng)信號(hào)頻率小時(shí)，會(huì)選用測(cè)周期的方法，把信號(hào)的周期測(cè)好了，周期的倒數(shù)就是頻率，此方法誤差源在于測(cè)周期的計(jì)時(shí)時(shí)鐘的頻率；當(dāng)信號(hào)頻率大時(shí)，會(huì)選用測(cè)脈沖數(shù)的方法，在標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間內(nèi)測(cè)出信號(hào)上升沿的個(gè)數(shù)，此方法的誤差是標(biāo)準(zhǔn)時(shí)間內(nèi)的選定問(wèn)題。

在參數(shù)測(cè)量的時(shí)間參數(shù)中，有“頻率”這測(cè)試項(xiàng)。此測(cè)試項(xiàng)是求得兩上升沿之間的時(shí)間差，再求倒數(shù)得到頻率。此測(cè)試項(xiàng)的誤差在于上升沿的判定與周期計(jì)時(shí)頻率，受限于當(dāng)前采樣點(diǎn)的采樣率。

在參數(shù)測(cè)量的統(tǒng)計(jì)參數(shù)中，有“上升沿計(jì)數(shù)”的方法，其原理是測(cè)量上升沿的個(gè)數(shù)。在測(cè)試中，可以將測(cè)量范圍選擇光標(biāo)區(qū)域，而光標(biāo)范圍設(shè)為200ms，這樣測(cè)得的上升沿乘以5，即為信號(hào)頻率。

圖 4 頻率、上升沿計(jì)數(shù)測(cè)量界面圖

選用信號(hào)發(fā)生器輸出不同頻率的信號(hào)，使用上述三種方法測(cè)得頻率如表 1所示。

表 1 不同測(cè)量方法測(cè)出的頻率對(duì)比表

可見(jiàn)三者測(cè)量結(jié)果差異不大，硬件頻率計(jì)的分辨率更高，而參數(shù)測(cè)量中有效位數(shù)只有5位。此信號(hào)發(fā)生器輸出頻率的準(zhǔn)確度為±1ppm，示波器內(nèi)部晶振的頻率準(zhǔn)確度為±2ppm，在上述的24MHz硬件頻率計(jì)中，測(cè)量的準(zhǔn)確度為80Hz/24MHz=3.33ppm，基本在儀器的測(cè)量精度內(nèi)。參數(shù)測(cè)量值在某些情況下顯得更接近真實(shí)值，這是因?yàn)槠溆行粩?shù)不夠而四舍五入的原因，準(zhǔn)確度更高的還是硬件頻率計(jì)。

5.小結(jié)

本文就對(duì)負(fù)載敏感的無(wú)源晶振信號(hào)的測(cè)量做了簡(jiǎn)約的分析，闡述了探頭的接入對(duì)電路負(fù)載效應(yīng)的影響，這種影響同樣也適用于輸出阻抗很大的電路。