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使用同步檢測進行精密低電平測量


時間:2017-02-21 作者:Luis Orozco
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至此討論的所有系統(tǒng)均會產(chǎn)生可激勵傳感器的參考信號。鎖定放大器的最后一項改進是允許外部信號充當參考信號。例如,圖10展示了可使用寬帶白熾燈來測試表面光學屬性的系統(tǒng)。此類系統(tǒng)可以測量鏡面反射性或表面污染量等參數(shù)。與應用電子調(diào)制相比,使用機械斬波器調(diào)制白熾燈光源會簡單得多。接近斬波器的廉價位置傳感器會生成方波參考信號饋送給鎖定放大器。鎖相環(huán)會產(chǎn)生與輸入?yún)⒖夹盘栴l率和相位相同的正弦波,而非直接使用此信號。


10. 使用PLL鎖定外部參考信號

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關(guān)鍵詞:儀器儀表 測試測量 同步檢測 低電平測量    瀏覽量:540

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